3DAOI 奔創(chuàng)AOI檢測儀器 3D全自動光學(xué)檢測系統(tǒng)

設(shè)備名稱：在線式3D全自動光學(xué)檢測系統(tǒng)
設(shè)備型號：ATHENA L（SI）
設(shè)備品牌：韓國奔創(chuàng)

設(shè)備產(chǎn)地：韓國

一、關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢
1、8+4投射+3層2D光源
2、2D 和 3D 同步檢測算法
3、遠(yuǎn)心鏡頭提供高精確度檢測
4、高配置CPU足以保證圖像快速處理
5、簡單明了的用戶界面
6、內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)元件庫管理系統(tǒng)
7、離線實時調(diào)試系統(tǒng)（選項）

二、先進的高速度檢測和測量技術(shù)
1、無陰影高速檢測和測量技術(shù)

在Pemtron錫膏檢測系統(tǒng)中已使用超過10年的PMP相位測量技術(shù)（莫爾條紋），擁有豐富的3D圖像處理和檢測經(jīng)驗。

ATHENA 系列 3D AOI配備100萬像素相機和8+4投射系統(tǒng)，對PCB進行100%的2D和3D全檢，保障完全無陰影光學(xué)檢測和低誤報率，并保持高度靈活性的系統(tǒng)功能。

2、高速檢測技術(shù)
ATHENA采用先進的算法，使用先進強大的影像處理器、控制器和自主專項開發(fā)的10MP、15um、 180fps遠(yuǎn)心鏡頭相機，實現(xiàn)高速、穩(wěn)定的測試。
3、高元件檢測技術(shù)
ATHENA采用全新的8+4方向3D投射技術(shù)，可提供業(yè)界領(lǐng)先的27mm元件高度的全方位3D檢測，選配Z軸，最高可以檢測60mm高度的元件。

4、無陰影 3D 技術(shù)
環(huán)狀光源和多投射系統(tǒng)能完全消除高密度元件和高元件對PCB產(chǎn)生的陰影影響。

5、光學(xué)字符識別
利用光學(xué)彩色抽色及建立樣板比對的原理識別元件的Part Name，能夠增加和修改OCR字體來優(yōu)化Part Name的檢測條件，更好地識別字體。
6、3D 焊錫高度測量
利用Pemtron先進的3D技術(shù)，ATHENA能夠檢測到傳統(tǒng)2D AOI無法到達的區(qū)域，增加了焊錫高度、體積和元件共面性的測試項目，大大提高了對不良產(chǎn)品的檢測能力。
7、3D 引腳檢測
ATHENA能夠檢測引腳的焊錫高度和體積，并且提供高質(zhì)量的真彩色3D圖像。
8、2D RGB 算法
通過RGB顏色區(qū)分，使操作者能更輕松地區(qū)分空焊、翹腳等不良。

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